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集成電路開發測試及小批量測試
  • 我們提供一系列集成電路開發測試及小批量測試的服務:
     
    • 數碼、 混合訊號、 射頻和記憶體產品的測試程式開發
    • 探針設計
    • 探針卡設計
    • 描述特性的程式開發
    • 測試儀平台轉換
    • 生產產量分析及產量改進
    • 測試時間減少
       
  • 我們的設備支援全晶圓的探測,以及MPW晶圓的手動探測 。
  • 我們可根據器材的規格協助進行全面測量。這可於ATE或在實驗室內進行。
  • 產品特色測試能分析裝置在極端或非標准的情況下之表現。表現可與設計有關或由晶圓的構造過程而產生。我們可根據客戶的需要去制定和執行裝置的參數表徵。
儀器清單
種類 ATE 供應商及型號 應用 圖片
混合訊號測試儀 Verigy V93000 PS800 Verigy V93000 PS800測試系統具有測試最複雜、 高針數和高性能SoC設備的能力。 Verigy V93000 PS800混合訊號測試儀
  Verigy V93000 PS400 Verigy V93000 PS400測試系統是為低端數碼及混合訊號消費產品的入門級測試成本的解決方案。 Verigy V93000 PS400混合訊號測試儀
  Credence ASL 1000 ASL1000是ASL 家庭的原有成員,具有多於 1000個已安裝的系統,能支援一個完全配置系統內多達19個儀器。 Credence ASL 1000混合訊號測試儀
數碼測試儀 Teradne J750 Teradyne J750提供有512個100MHz數碼頻道的數位測試平台。 Teradne J750數碼測試儀
挑選及放置的測試處理器 Delta EDGE Delta EDGE是為託盤包裝(tray-based packages)而設的x1至x4挑選及放置的處理器。其標準包裝尺寸範圍是3 毫米x3毫米到40 毫米×40 毫米,包括BGA、QFP、TQFP、TSOP和QFN。 Delta EDGE挑選及放置的測試處理器
  Hontech HT-7045 High UPH Epson 相容的挑選及放置處理器。 Hontech HT-7045挑選及放置的測試處理器
晶圓探示器 TSK UF200A, UF3000 這些晶圓探示器可處理尺寸為5、6、8和12吋的晶圓及自動調整大小。 TSK UF200A, UF3000晶圓探示器
高低溫衝擊實驗箱 Temptronic TPO4310A TPO4310A是個熱誘導系統(Thermal Inducing Systems),能快速方便地使小型和大型設備、模組、多氯聯苯(PCBs)及其他組裝設備在測試儀及應用地場內調較到精確的溫度。溫度範圍是攝氏零下75度到225度。 Temptronic TPO4310A高低溫衝擊實驗箱
鉛掃描器 ICOS CI-T120 在元件處理方面的最新發明,其特色在於視覺技術的應用、高速及高級視覺精確度。 ICOS CI-T120鉛掃描器