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集成电路失效分析实验室设有先进的测试仪器,以支援半导体及电子产品的产品分析。
集成电路失效分析实验服务:
铜制程产品开封
PCB板上开封
移除封装背面,显露芯片背面
集成电路失效分析实验室同时提供材料分析的实验室服务。
元素分布分析
场发射扫描电子显微镜
(ZEISS GeminiSEM 300 )
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