• 我们提供一系列集成电路开发测试及小批量测试的服务:
     
    • 数码,混合讯号,射频和记忆体产品的测试程式开发
    • 探针设计
    • 探针卡设计
    • 描述特性的程式开发
    • 测试仪平台转换
    • 生产产量分析及产量改进
    • 测试时间减少
       
  • 我们的设备支援全晶圆的探测,以及MPW晶圆的手动探测。
  • 我们可根据器材的规格协助进行全面测量。这可于事后或在实验室内进行。
  • 产品特色测试能分析装置在极端或非标准的情况下之表现。表现可与设计有关或由晶圆的构造过程而产生。我们可根据客户的需要去制定和执行装置的参数表徵。
仪器清单

IC Test Development & Pilot Production - Advantest V93000 PS800

 

种类: 混合讯号测试仪

ATE供应商及型号: Verigy V93000 PS800

应用: Advantest V93000 PS800测试系统具有测试最复杂、高针数和高性能的SoC设备的能力。

IC Test Development & Pilot Production - Advantest V93000 PS400

 

种类: 混合讯号测试仪

ATE供应商及型号: Verigy V93000 PS400

应用: Advantest V93000 PS400测试系统是为低端数码及混合讯号消费产品的入门级测试成本的解决方案。

IC Test Development & Pilot Production - Credence ASL 1000

 

种类: 混合讯号测试仪

ATE供应商及型号: Credence ASL 1000

应用: ASL1000是ASL 家庭的原有成员,具有多於 1000个已安装的系统,能支援一个完全配置系统内多达 19个仪器 。

IC Test Development & Pilot Production - Teradyne J750

 

种类: 数码测试仪

ATE供应商及型号: Teradyne J750

应用: Teradyne J750提供有512个100MHz数码频道的数位测试平台。

 

 

 

IC Test Development & Pilot Production - Delta EDGE

 

种类: 挑选及放置的测试处理器

ATE供应商及型号: Delta EDGE

应用: Delta EDGE是为托盘包装(tray-based packages)而设的x1至x4挑选及放置的处理器。其标准包装尺寸范围是3 毫米x3 毫米到40毫米×40毫米,包括BGA丶 QFP丶 TQFP丶 TSOP 和 QFN。

IC Test Development & Pilot Production -  Hontech HT-7045

 

种类: 挑选及放置的测试处理器

ATE供应商及型号: Hontech HT-7045

应用: High UPH Epson相容的挑选及放置处理器。

IC Test Development & Pilot Production - TSK UF200A, UF3000

 

种类: 晶圆探示器

ATE供应商及型号: TSK UF200A,UF3000

应用: 这些晶圆探示器可处理尺寸为5、6、8和12吋的晶圆及自动调整大小。

IC Test Development & Pilot Production -  Temptronic TPO4310A

 

种类: 高低温冲击实验箱

ATE供应商及型号: Temptronic TPO4310A

应用: TPO4310A是个热诱导系统(Thermal Inducing Systems),能快速方便地使小型和大型设备丶 模组丶 多氯联苯(PCBs)及其他组装设备在测试仪及应用地场内调较到精确的温度。温度范围是摄氏零下75度到225度。

 

 

 

IC Test Development & Pilot Production - ICOS CI-T120

 

种类: 铅扫描仪

ATE供应商及型号: ICOS CI-T120

应用: 在元件处理方面的最新发明,特色在於视觉技术的应用丶高速及高级视觉精确度。


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